?

Log in

No account? Create an account

Предыдущий пост | Следующий пост

Для слушателей семинара, а также тех, кто интересуется данной темой, мы собрали ответы на поднятые на семинаре вопросы об измерении полупроводниковых приборов.

1. Является ли Тестер FORMULA ; D самостоятельным средством измерения? Возможна ли его интеграция с имеющимися Тестерами FORMULA TT и FORMULA TT2?
Ответ: Да, Тестер FORMULA D является самостоятельным измерительным оборудованием и может применяться отдельно от Тестеров FORMULA TT2 и FORMULA TT для контроля динамических характеристик полупроводников.
Система FORMULA SD – это контрольно-измерительный комплекс для проверки статических и динамических параметров полупроводниковых приборов на одном рабочем месте, состоящий из измерительных блоков Тестеров FORMULAD и FORMULATT2.
Для обеспечения интеграции Тестера FORMULA D с Тестером FORMULA TT необходимо укомплектовать последний до уровня FORMULA TT2.

Состав и структура Тестера FORMULA SD

2. Какие ограничения есть при измерении малых токов на Тестере FORMULA SD на диапазонах меньше 10нА, какая гарантирована точность, есть ли рекомендации по проведению таких измерений?
Ответ: При измерении тока в наноамперном диапазоне существенный вклад в погрешность вносят внешние влияющие факторы. К таким влияющим факторам относятся электромагнитные помехи:
- от радиочастот (радио, ТВ, сотовая связь),
- от питающей сети,
- от работающего окружающего электрооборудованиия,
- от поверхностных токов утечки связанных с влажностью окружающего воздуха
- от пьезо и трибо – эффекта на соединительных проводах.
Эти факторы относятся к методической части погрешности и должны быть минимизированы на месте эксплуатации применением внешнего экранирования, применением осушителей воздуха, удалением от мешающего электрооборудования, применением выделенной питающей сети и защитного заземления. Что же касается погрешности измерения тока то она соответствует применяемому прибору Keithleу 6485.

3. Какое минимальное значение измерительных импульсов в Тестере FORMULA SD для различных диапазонов токов? Будет ли возможность задавать импульсы меньше 20 мкс? Какие будут минимальные значения времён нарастания и спада сигнала для таких импульсов для различных диапазонов тока? Какова дискретность для таких импульсов?
Ответ: При измерении динамических параметров заявлена минимальная длительность измерительного импульса от 1 мкс. Минимальные значения нарастания и спада сигналов, а также дискретность импульсов обусловлены ёмкостями реальных электрических цепей, поэтому конкретные значения указанных величин будут определены по итогам проведения испытаний и утверждения Описания типа средств измерений.

4. Будет ли в ПО FORMULA SD присутствовать встроенный осциллограф?
Ответ: Да, встроенный осциллограф является жизненно необходимым программно-аппаратным инструментом для анализа контролируемых объектов контроля и в обязательном порядке присутствует в составе всех Тестеров линейки FORMULA.

5. Опишите механизм сохранения результатов измерений, можно ли будет редактировать базу данных с уже проведёнными измерениями? В каком виде будут храниться результаты?
Ответ: Результаты измерений будут заноситься в базу данных (БД) в текстовом формате, как это сделано сейчас в программном обеспечении Тестеров FORMULA TT и FORMULA TT2.
Данное ПО позволяет проводить повторные измерения полупроводниковых приборов с автоматической коррекцией БД по заводскому номеру измеряемого изделия. В остальных случаях файлы с результатами измерений доступны для чтения с помощью распространенных текстовых редакторов. Предусмотрена конвертация файлов БД в EXCEL-файлы.

6. Какие возможности и ограничения по измерению граничной частоты для биполярных транзисторов? Будет ли возможность измерять приборы с граничной частотой до 20 ГГц?
Ответ: Заявленный предел измерения граничной частоты – 600 МГц. Проведенный нами анализ рынка потенциальных потребителей Тестера показал низкую заинтересованность в столь высоком пределе данного параметра.
Просим Вас при возникновении любых вопросов и пожеланий по параметрам нового Тестера FORMULA SD направлять все запросы в наш адрес. Каждый из них в обязательном порядке будет рассмотрен и на каждый дан исчерпывающий ответ.

7. Есть ли возможность добавлять дополнительные разъёмы на коммутаторы?
Ответ: Да, такая возможность есть. Зачастую новые коммутаторы разрабатывается по пожеланиям Заказчика, поэтому при наличии потребности есть все возможности разработать новый или доработать существующий коммутатор.

8. Список измеряемых динамических параметров окончателен или будет обновляться в ходе разработки? В частности, интересует измерение характеристик лавинного пробоя – энергия, время восстановления после пробоя.
Ответ: Перечень измеряемых параметров, как статических, так и динамических, может быть расширен по пожеланию Заказчика в рамках аппаратных ограничений Тестера либо при помощи интеграции с внешними приборами. В нашей практике немало нестандартных методов, реализованных по техническому заданию Заказчика.

9. Как часто необходимо проводить калибровку/поверку Тестера FORMULA D?
Ответ: Межповерочный интервал будет установлен по результатам испытаний. Расчетный межповерочный интервал составляет 1 год. Как обычно, Потребителю будет предоставлена возможность самостоятельно произвести внеочередную метрологическую калибровку на основании прилагаемой Методики поверки с помощью поставляемого программно-аппаратного комплекса для ее автоматизации.

10. Какие действия, если персонал испытывает трудности при составлении измерительных программ? Есть ли подробные руководства для разработки конкретных программ? В каком они виде?
Ответ: составление измерительных программ в высокой степени автоматизировано, благодаря встроенной библиотеке методов контроля, и занимает
15-20 минут. Чтобы у персонала не было непредвиденных трудностей, мы в обязательном порядке проводим стажировку по работе с Тестером, в том числе по составлению измерительных программ.
Исчерпывающая эксплуатационная документация на Тестер и его программное обеспечение позволяет Вашим специалистам не только чувствовать себя свободно при составлении программ и выполнении контроля, но и передавать знания новым сотрудника. Мы планируем сделать обучающий ролик по составлению программ, дополняющий руководство по эксплуатации.
Тем не менее, в случае необходимости Вы можете направить специалистов Вашего предприятия на дополнительную стажировку как по стандартным программам обучения, так и по программам, адаптированным под Ваши конкретные пожелания.
Дополнительное обучение Ваших новых специалистов мы проводим в любое согласованное с Вами время.

11. Где происходит аттестация пикоамперметра Keithley 6485, поставляемого с коммутаторами К1 и К2? Нужно ли его поверять отдельно от Тестера?
Ответ: Пикоамперметр Keithley 6485 является самостоятельным средством измерения и имеет собственную методику поверки с межповерочным интервалом 1 год, а также отдельное свидетельство о поверке. Поверка пикоамперметра Keithley 6485 может осуществляться в любой аккредитованной организации.
Обращаем Ваше внимание, что межповерочный интервал Тестера и пикоамперметра совпадает и составляет 1 год. При этом калибровку пикоамперметра можно проводить непосредственно перед каждым ответственным измерением.

12. Отображаются ли в режиме оператора измеряемые значения?
Ответ: Числовые значения результатов измерения, а также результаты накопленной статистики по партии выводятся на экран в режиме оператора. Однако, для исключения ошибки оператора, мы рекомендуем операторам не пользоваться монитором, применяя в работе только индикаторы «Годен», «Брак», «Группа годности» и «Группа брака», расположенные на лицевой панели Тестера.

13. Если группы годности «перекрываются» (т.е. совпадают их пределы), какую из них выберет Тестер? В случае, если группы не имеют приоритета между собой, будет ли выдано сообщение, что прибор соответствует сразу нескольким группам годности?
Ответ: Тестер может производить разбраковку по нескольким группам годности, при этом для исключения ошибки пределы каждой группы не должны пересекаться. Если пределы групп годности в тесте пересекаются, то изделию будет присвоена наихудшая группа годности.
Сообщение о том, что прибор соответствует сразу нескольким группам годности быть не может – приоритет всегда у группы «1». Если группы «перекрываются», то изделию присваивается любая (отличная от первой) группа как наихудшая.

14. В ПО FORMULA TT2 реализовано множество новых функций, почему же ПО для FORMULA TT не модернизируется и не имеет этих же новых функций?
Ответ: Тестер FORMULA TT является «готовым» продуктом – серийным средством измерений. Обновление программного обеспечения для него не является приоритетной задачей, а имеющееся ПО в полной мере позволяет решать задачи, для которых Тестер был создан.
Несмотря на это мы готовы по Вашему официальному запросу рассмотреть возможность внесения изменений в программное обеспечение Тестера FORMULA TT.

15. Можно ли самостоятельно выбирать формат представления числовых результатов измерений?
Ответ: изначально в программной оболочке Тестера установлен определённый формат вывода числовых результатов измерений, но с помощью функции подключения внешних библиотек Пользователи могут самостоятельно разработать удобный для них формат.

16. Как физически происходит измерение переходного сопротивления контактов зонда?
Ответ: Измерение сопротивления контактов происходит по четырёхпроводной схеме в автоматическом режиме, управление измерением обеспечено программным обеспечением Тестера.
На контактную площадку устанавливается одновременно 3 иглы, далее проводится снятие ВАХ между парами игл: «коллектор-база», «коллектор-эмиттер», «база-эмиттер» и расчет контактного сопротивления по каждой игле на основе решения системы уравнений.

17. Есть прецеденты удачного использования коммутаторов? Есть ли отзывы?
Ответ: Коммутаторы успешно применяются на двух крупнейших российских предприятиях-изготовителях полупроводниковых приборов АО «ГЗ «Пульсар», АО «НПП «Завод Искра», а также в АО «РНИИ «Электронстандарт».

18. Каким образом происходит измерение полупроводниковых приборов с помощью коммутатора К4х20? Есть ли возможность задать временной интервал между импульсами при проведении ЭТТ?
Ответ: Да, такая возможность есть. Коммутатор К4х20 предназначен для групповых измерений до 20 различных полупроводниковых приборов в камере тепла-холода с автоматическим сохранением результатов измерений в базе данных.
С помощью специального программного обеспечения Пользователь загружает измерительную программу на каждую позицию, а также задает временную циклограмму количества измерений по всем позициям и интервалов времени между данными измерениями.

19. Можно ли будет измерять динамику во время термоиспытаний или на зонде?
Ответ: Возможность измерения динамических характеристик на удалении от разъемов Тестера в проекте не предусмотрена, поскольку это является большим ограничением производительности контроля. Тем не менее, при наличии конкретных пожеланий Потребителей мы рассмотрим реализацию метода и его ограничения по результатам изготовления опытного образца.

20. Можно ли оснастить Тестер FORMULA TT2 платой канальной электроники для проверки интеллектуальных ключей?
Ответ: Нет. Область применения Тестера ограничивается измерениями только полупроводниковых приборов или полупроводниковых сборок и не включает в себя проверку ИМС. Для проверки интеллектуальных ключей запланирована разработка Тестера силовой электроники FORMULA V. Тестер FORMULA V будет предназначен для автоматизированного контроля параметров изделий силовой электроники: непрерывных стабилизаторов напряжения НСН, источников вторичного электропитания ИВЭП (преобразователей постоянного тока), статических твердотельных реле и интеллектуальных ключей.

21. Где можно посмотреть перечень контактирующих устройств (КУ) для различных типов корпусов?
Ответ: КУ на объект контроля поставляется только в составе так называемого Тестового решения, вместе с измерительной программой и Паспортом. Перечень готовых Тестовых решений для Тестеров FORMULA TT и FORMULA TT2 можно посмотреть на сайте ФОРМ http://form.ru/rar/TR/TP_FTT.pdf
Мы разрабатываем и новые Тестовые решения на заказ, по Вашим техническим требованиям.

22. Можно ли с помощью Тестера FORMUL TT2 контролировать тестовые структуры на пластине?
Ответ: Тестер FORMULA TT2 идеально подходит для решения задач входного тестовых структур на пластинах. При этом контакт к пластине осуществляется с помощью проб-карты зонда, а измерения проводятся в автоматическом режиме в специальном программном обеспечении Тестера для работы с зондом.

23. Есть ли возможность создавать SPICE модели для приборов, используя статистические данные, собранные в результате измерений?
Ответ: Конкретных методик по их получению SPICE параметров полупроводников, основываясь на результатах измерений, у нас пока нет.
Справочно: SPICE-модель представляет собой текстовый файл, в котором содержатся сведения об эквивалентной модели устройства, параметры и их значения. Модель с определённой точностью отражает свойства реальной полупроводниковой структуры, что позволяет:
- корректировать режимы технологических процессов;
- анализировать качество выпускаемых приборов производителям ЭКБ;
- обеспечить потребителей ЭКБ данными для схемотехнического моделирования готовых устройств, исследования и прогнозирования надежности во всех эксплуатационных режимах.
Экстракция параметров любого компонента проводится на основании реальных измерений, причём осуществляется как в ручном режиме, при помощи лабораторных приборов, так и в автоматизированном – с использованием контрольно-измерительного оборудования. Для получения достоверной модели полученные данные обрабатываются в схемотехнических САПР.
С целью создания библиотеки моделей для отечественной ЭКБ, подобно тому, как это уже сделали зарубежные производители, компания ФОРМ объявила призыв волонтёров.

Первоочередная цель предстоящей волонтерам работы – выработать методики определения начальных значений параметров SPICE-модели, а затем оптимизировать методики, вплоть до совпадения с реальными структурами с заданной точностью.
Мы считаем, что студенты и аспиранты технических вузов, молодые специалисты в области электроники и микроэлектроники могут иметь с перспективные предложения по данной теме.

Для выполнения работы мы предоставим волонтерам:
- автоматизированное рабочее место: Тестер БИС и ИМС FORMULA 2K, Тестер полупроводниковых приборов FORMULA TT2 с функцией ВАХ, лабораторные приборы,
- реальные полупроводниковые структуры,
- обучение и всестороннюю помощь инженеров-разработчиков Компании ФОРМ.
Экстракция SPICE-моделей, несмотря на автоматизацию эксперимента, потребует от волонтеров выполнения значительного объема работ, сопоставимых с уровнем курсовой или дипломной работы, а в отдельных случаях – диссертации.
В контексте импортозамещения практическая ценность результатов предстоящей работы подтверждается ее потенциальными потребителями – предприятиями электронной отрасли России.

Записи из этого журнала по тегу «мероприятия»