?

Log in

No account? Create an account

Предыдущий пост | Следующий пост

Тестер FORMULA SD – универсальное автоматизированное средство измерений статических и динамических параметров полупроводниковых приборов, предназначенное для измерения сигналов тока и напряжения при контроле статических, динамических, емкостных и зарядовых параметров полупроводниковых приборов в диапазонах от 0,1 до 2000 В и от 2 нА до 100 А, а также снятия вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик двух-, трех-, и четырехполюсников.


Наименование параметра Диапазоны
Измерение статических параметров
Количество задающих каналов 2
Диапазон задания по напряжению 100 мВ…2000 В
Дополнительные диапазоны источников напряжения 5
Ряд источников напряжения 10; 20; 200; 500; 2000 В
Погрешность задания напряжения ±(0,5% + 10 мВ)
Погрешность измерения напряжения ±(0,5% + 10 мВ)
Диапазон измеряемого напряжения 100 мВ…2000 В
Длительность измерительного импульса 300 мкс…100 с
Количество измерительных каналов 2
Диапазон задания по току 100 нА…100 А
Диапазон измеряемого тока  без подключения внешнего прибора 100 нА…100 А
Дополнительные диапазоны источников тока 8
Ряд независимых источников тока 5 мА; 200 мА; 10 А; 100 А
Погрешность задания тока ±(1% + 50 нА) в стандартном режиме
±(2% + 20 нА) в режиме малых токов
Погрешность измерений тока ±(1% + 50 нА) в стандартном режиме
±(2% + 20 нА) в режиме малых токов
Диапазон измеряемого заряда переключения затвора 10 пК…2000 нК
Диапазон измеряемой емкости 0,1 пФ…100 нФ
Диапазон измеряемой индуктивности 0,001 нГ…100 Г
Диапазон измеряемого сопротивления 0,1 мкОм…100 МОм
Измерение динамических параметров
Диапазон измеряемого времени включения 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени выключения 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени нарастания 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени спада 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени обратного восстановления диодов 10 нс…1 мкс
Погрешность измерения динамических параметров Не более 10%
Диапазон задания по напряжению 100 мВ…800 В
Ряд источников напряжения 40 В, 800 В
Погрешность задания напряжения, типовая Не более 2%
Ряд источников тока 10 А, 100 А

Тестер FORMULA SD обеспечивает контроль полупроводниковых приборов в полном соответствии с требованиями соответствующих отечественных и зарубежных стандартов:

ГОСТ 18986 – диоды и стабилитроны;
ГОСТ 18604, ГОСТ 27264 – биполярные транзисторы;
ГОСТ 20398, MIL-STD-750 (Method 3473.1, 3472.2) – полевые транзисторы;
ГОСТ 24613 – оптопары;
ГОСТ 19138 – тиристоры.

В дополнение к возможностям Тестера FORMULA TT2 в Тестере FORMULA SD реализованы следующие дополнительные возможности по измерениям статических параметров:

1. Измерение емкостных характеристик полевых транзисторов и диодов;
2. Измерение зарядовых характеристик полевых транзисторов;
3. Измерение энергии лавинного пробоя полевых транзисторов.

Контроль динамических параметров в Тестере FORMULA SD обеспечен возможностью подачи на объект контроля напряжений и токов с источников 40В/100А и 800В/10А.

Измерение статических, динамических и емкостных/зарядовых параметров производится на единой установочной площадке. При этом обеспечено автоматическое документирование режимов и результатов измерений.

Последние записи в журнале