?

Log in

No account? Create an account

Предыдущий пост | Следующий пост

В данной статье описывается практическое применение аппаратных и программных возможностей Тестеров FORMULA TT и FORMULA TT2 при необходимости производить контроль параметров полупроводниковых приборов нестандартными методами, то есть, методами, не представленными в типовой программно-аппаратной библиотеке.
Описание построено на рассмотрения частного случая - введения дополнительного резистора в цепь базы и эмиттера при контроле пробивного напряжения биполярного транзистора.
Все разнообразие возможных вариантов использования аппаратных и программных средств Тестеров в этом материале не рассматриваются ввиду конечного объема статьи.
Материал предназначен для применения специалистами, которые разрабатывают Тестовые решения для контроля приборов на Тестерах FORMULA TT и FORMULA TT2.

1 Задача и условия контроля

а) Измерение пробивного напряжения коллектор эмиттер (Uпробкэr) биполярного транзистора с резистором R = 100 кОм заданного номинала в цепи база-эмиттер.
б) Программная реализация метода – типовая: метод входит в библиотеку методов контроля Тестеров.
в) Аппаратная реализация метода – нетиповая: необходимо подключение резистора конкретного номинала R = 100 кОм, соответствующего требованиям НТД потребителя.

2 Способы реализации контроля

Благодаря наличию разъема управления внешними устройствами с доступом из среды программного обеспечения, имеется возможность размещения и использования резистора R необходимого типономинала на оснастке с контактирующим устройством и подключения указанного резистора к объекту контроля через коммутатор.
Метод измерения возможно выбрать из функционально-идентичных методов в библиотеке Тестера.

2.1 Способ первый – применение альтернативного метода.

2.1.1 Из состава аппаратных и программных средств Тестера следует выбирать метод, функционально-идентичный необходимому, но без подключения базы объекта контроля к Тестеру, например:
- метод контроля пробивного напряжения диода Uпроб (для pnp транзистора),
- метод контроля пробивного напряжения транзистора с разомкнутой базой Uкэхх.

2.1.2 Применить аппаратную реализацию по первому способу, а именно: вход управления коммутатором подключен к второму разряду регистра управления (что соответствует десятичному числу «2»):
- с применением твердотельного реле по двухпроводной схеме контроля в соответствии с рис. 1,
- с применением электромагнитного реле по двухпроводной схеме контроля в соответствии с рис.2,
- с применением электромагнитного реле по четырехпроводной схеме контроля в соответствии с рис. 3.

Применить программную реализацию первого способа:
- с применением Uпроб диода и десятичной командой управления «2» в соответствии с рис.4,
- с применением Uкэхх транзистора и десятичным командой управления «2» в соответствии с рис.5.

2.2 Способ второй – применение имеющегося метода.

Из состава аппаратных и программных средств Тестера следует выбрать необходимый метод контроля Uпробкэr.

Аппаратная реализация второго способа:
- с применением электромагнитного реле по двухпроводной схеме контроля в соответствии с рис.6,
- с применением электромагнитного реле по четырехпроводной схеме контроля в соответствии с рис.7.

Программная реализация второго способа с применением Uпробкэr и десятичной командой управления «2» приведена на рисунке 8.


Рисунок 1. Аппаратная реализация контроля Uпробкэr с применением твердотельного реле и двухпроводной схемы для первого способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 2. Аппаратная реализация контроля Uпробкэr с применением электромагнитного реле и двухпроводной схемы для первого способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 3. Аппаратная реализация контроля Uпробкэr с применением электромагнитного реле и четырехпроводной схемы для первого способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 4. Программная реализация контроля Uпробкэr с применением метода Uпроб диода для первого способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 5. Программная реализация контроля Uпробкэr с применением метода Uкэхх диода для первого способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 6. Аппаратная реализация контроля Uпробкэr с применением электромагнитного реле и двухпроводной схемы для второго способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 7. Аппаратная реализация контроля Uпробкэr с применением электромагнитного реле и четырехпроводной схемы для второго способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.


Рисунок 8. Программная реализация контроля Uпробкэr для второго способа измерения пробивного напряжения коллектор эмиттер.

В представленной статье:
- описаны дополнительные возможности применения аппаратных и программных средств Тестеров FORMULA TT, FORMULA TT2;
- рассмотрены способы реализации нетипового метода измерения с подключением дополнительного резистора к объекту контроля с применением имеющихся возможностей Тестера;
- приведены практические схемы аппаратной и программной реализации.

В описании показана возможность реализации нетипового метода измерения объекта контроля двумя способами:
- с использованием функционально-идентичного метода контроля из аппаратно-программной библиотеки Тестера;
- с использованием имеющегося метода контроля.

Применение изложенных рекомендаций поможет специалистам, создающим Тестовые решения для контроля полупроводниковых приборов, сократить расходы на разработку и изготовление средств контроля за счет полного использования имеющихся у них технических возможностей Тестеров FORMULA TT и FORMULA TT2.