?

Log in

No account? Create an account

Предыдущий пост | Следующий пост

Предприятие ФОРМ 9 июня 2015 г. проводит практический семинар на тему:
Измерения высокочастотных СБИС на российских Тестерах FORMULA HF

На семинаре будет рассмотрен комплекс нормативных требований к контролю функциональных и параметрических характеристик СБИС и порядок их реализации на Тестерах FORMULA.
Мы продемонстрируем полноту и точность измерений FORMULA на конкретных типах современных СБИС:
· ЗУ 1645РУ4АУ, 1636PP2
· Процессор 1867ВЦ2АТ
· МикроЭВМ 1825ВС3
· ПЛИС 5576ХС1Т
Особое внимание будет уделено измерениям динамических характеристик СБИС, как наиболее критическим для высокочастотных микросхем. На сегодня Тестеры FORMULA являются единственным типовым средством измерений, аттестованным для контроля динамических характеристик СБИС в наносекундном диапазоне!

Семинар проводится с участием ведущих специалистов ФОРМ и испытательной лаборатории ИЛФОРМ, которые ответят на вопросы участников в общей дискуссии по вопросам измерений и испытаний СБИС.

Приглашаем Ваших специалистов – разработчиков, конструкторов, испытателей, технологов, сотрудников службы качества, метрологов – посетить наш семинар!

Для регистрации просим сообщить Ваши данные по электронной почте info@form.ru
Начало семинара 9 июня 2015, в 10:00.
Место проведения: Москва, Очаковское шоссе 34, ФОРМ

Записи из этого журнала по тегу «мероприятия»