?

Log in

No account? Create an account

Предыдущий пост | Следующий пост

В своем новом офисе в Очаково компания ФОРМ ежемесячно проводит семинары с представителями профессионального сообщества, а также образовательные мероприятия.



9 июня проведен семинар
«Измерения высокочастотных СБИС на российских
Тестерах FORMULA HF3»

На семинаре рассмотрены следующие вопросы измерений и контроля микросхем:

1. Комплекс нормативных требований к контролю микросхем:
- функциональное тестирование высокочастотных СБИС
- контроль и измерение электрических статических и динамических параметров СБИС

2. Как Тестеры микросхем FORMULA HF3 обеспечивают нормативные требования к контролю параметров высокочастотных СБИС:
- характеристики аппаратного обеспечения Тестеров FORMULA HF3
- конструктивные характеристики оборудования
- состав и содержание программного обеспечения FORM.exe

3. Методы функционального контроля, измерения статических и динамических параметров высокочастотных микросхем на Тестерах FORMULA HF

4. Метрологическое обеспечение измерений микросхем:
- метрологические характеристики Тестеров
- автоматическая компенсация погрешностей измерительной оснастки
- согласование линий на оснастке для высокочастотных измерений;

5. Краткий обзор программного комплекса Тестеров FORMULA HF для автоматизации, полноты и удобства измерений микросхем:
- использование мастеров при разработке измерительных программ
- поддержка импорта форматов VCD, SVF, WGL и Невод для генерации
тестов функционального контроля
- средства отладки тестов функционального контроля
- исследовательский инструментарий Тестера
- разработка специальных тестов на языках высокого уровня C++, Pascal;
- создание базы данных результатов измерений.

6. Сервис и поддержка ФОРМ как уникальная услуга Производителя оборудования и испытательной лаборатории ИЛФОРМ:
- ремонт и сервисное обслуживание Тестеров FORMULA HF;
- проведение испытаний в ИЛФОРМ;
- помощь в анализе брака и ведении рекламационной работы;
- стажировки по работе с Тестерами, по метрологической калибровке и поверке для метрологических служб.

7. Демонстрация этапов разработки программ контроля микросхем и процесса измерений на Тестере FORMULA HF3

Последние записи в журнале