?

Log in

No account? Create an account

Верхняя запись ООО ФОРМ

Предприятие ФОРМ разрабатывает и серийно производит автоматизированные средства измерений для контроля электронных компонентов и узлов - Тестеры FORMULA:

FORMULA HF - до 550 МГц, 1024 канала Контроль СБИС
FORMULA 2K - до 20 МГц, 256 каналов Контроль БИС и ИМС
FORMULA TT2 - до 2000 В/100 А Контроль полупроводниковых приборов
FORMULA R - до 750 В Контроль реле
FORMULA СК - до 20 МГц/ +/-30 В/ 192 канала Контроль узлов РЭА

Компания ФОРМ создана в 1992 г. с целью разработки и производства изделий микроэлектроники и электроники.
До 1996 г. предприятие специализировалось исключительно на проектировании и изготовлении БИС на БМК и ПАВ-фильтров.
Читать дальше...Свернуть )

В семинаре приняли участие 37 представителей из 22 ведущих предприятий российского ОПК. В формате круглого стола мы рассказали о новых инструментах контроля и испытаний широкой номенклатуры СБИС  на Тестерах линейки FORMULA HF.

Читать дальше...Свернуть )
От всей души поздравляем наших Пользователей и Партнеров, всех вместе и отдельно каждого, с наступающим Новым годом!
Желаем воплощения всех креативных и творческих идей, реализации самых заветных планов и покорения выдающихся вершин!


Присоединяйтесь к тем, кто понимает цену качества выпускаемой продукции!

2017 г. станет для нашей Компании по настоящему знаковым - 25 лет работы в оборонно-промышленном комплексе России и СНГ воплотились в успешный опыт сотрудничества с более чем девяноста ведущими дизайн центрами, лабораториями входного контроля, испытательными центрами, и производителями конечной продукции

Мы ждем Вас в рядах Пользователей Тестеров FORMULA - становитесь сотым и получайте по настоящему достойные привелегии! Спешите, до заветного рубежа осталось лишь несколько ступеней.
Тестер FORMULA SD – универсальное автоматизированное средство измерений статических и динамических параметров полупроводниковых приборов, предназначенное для измерения сигналов тока и напряжения при контроле статических, динамических, емкостных и зарядовых параметров полупроводниковых приборов в диапазонах от 0,1 до 2000 В и от 2 нА до 100 А, а также снятия вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик двух-, трех-, и четырехполюсников.


Наименование параметра Диапазоны
Измерение статических параметров
Количество задающих каналов 2
Диапазон задания по напряжению 100 мВ…2000 В
Дополнительные диапазоны источников напряжения 5
Ряд источников напряжения 10; 20; 200; 500; 2000 В
Погрешность задания напряжения ±(0,5% + 10 мВ)
Погрешность измерения напряжения ±(0,5% + 10 мВ)
Диапазон измеряемого напряжения 100 мВ…2000 В
Длительность измерительного импульса 300 мкс…100 с
Количество измерительных каналов 2
Диапазон задания по току 100 нА…100 А
Диапазон измеряемого тока  без подключения внешнего прибора 100 нА…100 А
Дополнительные диапазоны источников тока 8
Ряд независимых источников тока 5 мА; 200 мА; 10 А; 100 А
Погрешность задания тока ±(1% + 50 нА) в стандартном режиме
±(2% + 20 нА) в режиме малых токов
Погрешность измерений тока ±(1% + 50 нА) в стандартном режиме
±(2% + 20 нА) в режиме малых токов
Диапазон измеряемого заряда переключения затвора 10 пК…2000 нК
Диапазон измеряемой емкости 0,1 пФ…100 нФ
Диапазон измеряемой индуктивности 0,001 нГ…100 Г
Диапазон измеряемого сопротивления 0,1 мкОм…100 МОм
Измерение динамических параметров
Диапазон измеряемого времени включения 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени выключения 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени нарастания 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени спада 10 нс…1 мкс
Диапазон измеряемого времени обратного восстановления диодов 10 нс…1 мкс
Погрешность измерения динамических параметров Не более 10%
Диапазон задания по напряжению 100 мВ…800 В
Ряд источников напряжения 40 В, 800 В
Погрешность задания напряжения, типовая Не более 2%
Ряд источников тока 10 А, 100 А

Тестер FORMULA SD обеспечивает контроль полупроводниковых приборов в полном соответствии с требованиями соответствующих отечественных и зарубежных стандартов:

ГОСТ 18986 – диоды и стабилитроны;
ГОСТ 18604, ГОСТ 27264 – биполярные транзисторы;
ГОСТ 20398, MIL-STD-750 (Method 3473.1, 3472.2) – полевые транзисторы;
ГОСТ 24613 – оптопары;
ГОСТ 19138 – тиристоры.

В дополнение к возможностям Тестера FORMULA TT2 в Тестере FORMULA SD реализованы следующие дополнительные возможности по измерениям статических параметров:

1. Измерение емкостных характеристик полевых транзисторов и диодов;
2. Измерение зарядовых характеристик полевых транзисторов;
3. Измерение энергии лавинного пробоя полевых транзисторов.

Контроль динамических параметров в Тестере FORMULA SD обеспечен возможностью подачи на объект контроля напряжений и токов с источников 40В/100А и 800В/10А.

Измерение статических, динамических и емкостных/зарядовых параметров производится на единой установочной площадке. При этом обеспечено автоматическое документирование режимов и результатов измерений.
Представляем Вашему вниманию обновленную линейку контактирующих устройств из состава Тестовых решений, предназначенных для использования совместно с Тестерами FORMULA TT и FORMULA TT2. Контактирующие устройства были разработаны специалистами нашей Компании взамен применявшимся ранее изделиям стороннего производства.
                                                                                                        
                                                                                                                                                     
      Ижевск-ФОРМ КУ.png


Преимущества новых контактирующих устройств:
- реализация кельвин-контакта (четырехпроводная схема подключения), позволяющая исключить сопротивление проводов.
- уменьшенные габариты
- сокращение сроков разработки и поставки Тестовых решений
- сокращение стоимости Тестовых решений
Новые контактирующие устройства из состава Тестовых решений разработаны для следующих полупроводниковых приборов:
2П304А, КП303А, 2Т630Б, 2Т313А,Б, 2Т312Б,В; 2Т208Б, 2Т709А2, КП707А1, КТ819Б,Г, 2SC3840, 2SA1486, D44H11, 2С168А, 2С147А, 2С156А,В, 2Д103А1/С0, 2Д120А1,2, 2Д106, 2C212Ж, 2С210Ж, 2С536А,А1, 2С515А1, 2Д522Б, 2Д419В.
В семинаре приняли участие 16 представителей из 14 ведущих предприятий российской электронной отрасли. В формате круглого стола мы поделились накопленным опытом по организации рекламационной работы с поставщиками ЭКБ и продемонстрировали положительные результаты ведения рекламационной работы с помощью инструментария Тестеров FORMULA и сервиса ФОРМ.

Благодарим ведущего инженера-исследователя АО «Российские космические системы» И. Булаева за доклад об организации рекламационной работы на базе Тестеров FORMULA 2K в НЦ СЭО как с российскими, так и с иностранными поставщиками.

Приглашаем всех, кто интересуется данной темой, обратиться в нашу службу технической поддержки по электронной почте support@form.ru за получением материалов семинара.





Читать дальше...Свернуть )

Мы рады сообщить Вам об очередном пополнении нашей библиотеки готовых Тестовых решений TestBox для контроля отечественных операционных усилителей и компараторов.

14 новых Тестовых решений TestBox для работы совместно с Тестером FORMULA 2K могут быть поставлены или переданы во временное безвозмездное пользование по Вашей заявке в течение 1 месяца.
Наименование объекта контроля ТУ Производитель
ОСМ153УД6С1 ВК АЕЯР.431130.342-02 ТУ АО «Восход» - КРЛЗ
744УД1А-1 бК0.347.063ТУ АО «НПП «Восток»
744УД2-1Н бК0.347.063ТУ АО «НПП «Восток»
ОСМ1467СА1Т АЕЯР.431000.257-04 ТУ ОАО «ИНТЕГРАЛ»
ОСМ1467УД1Т АЕЯР.431000.257-01 ТУ ОАО «ИНТЕГРАЛ»
544УД13У3 АЕЯР.431130.359 ТУ АО «НПП «Восток»
ОСМ 140УД6А ВК АЕЯР.431130.171-04ТУ АО «Восход» - КРЛЗ
ОСМ 140УД17А ВК АЕЯР.431130.171-17ТУ АО «Восход» - КРЛЗ
544УД12У3 АЕЯР.431130.358 ТУ АО «НПП «Восток»
ОСМ 140УД20А ВК АЕЯР.431130.171-14ТУ АО «Восход» - КРЛЗ
ОСМ 140УД31АТ1 ВК АЕЯР.431130.171-17ТУ АО «Восход» - КРЛЗ
ОСМ 140УД25АС1 ВК АЕЯР.431130.171-22ТУ АО «Восход» - КРЛЗ
544УД16У3 АЕЯР.431130.510 ТУ АО «НПП «Восток»
ОСМ521СА3ММ АЕЯР.431350.129-02ТУ ПАО «Микрон»

Каждое Тестовое решение TestBox является специализированным программно-аппаратным комплексом, полностью готовым к применению продуктом, который включает:
• специализированную оснастку для подключения конкретного типа ЭКБ к Тестеру FORMULA
• диск с программой контроля
• паспорт с руководством оператора
• гарантию и техническую поддержку Производителя.

Приобретая Тестер с Тестовыми решениями TestBox, Потребитель имеет возможность немедленно приступить к измерению микросхем, существенно сокращая сроки выпуска своей продукции и снижая риски не выявленных отклонений по качеству.

Разработку дизайна и программного обеспечения для Тестовых решений выполняет группа опытных инженеров нашей аккредитованной испытательной лаборатории.

Наряду с поставкой готовых Тестовых решений из Библиотеки TestBox, мы выполняем разработку и производство Тестовых решений на заказ, по техническому заданию Потребителя.

Метки:

Мы рады сообщить, что в соответствии с приказом Федеральной службы по аккредитации №А-6177 от 15.08.2016 г. метрологическая служба ООО «ФОРМ» аккредитована в национальной системе аккредитации в области обеспечения единства измерения для выполнений работ и оказания услуг по поверке средств измерений (номер в реестре RA.RU.311819).


С 15.08.2016 г. техническое обслуживание Тестеров линейки FORMULA дополнительно включает в себя проведение первичной или периодической поверки Изготовителем, выполняемой квалифицированными поверителями в кратчайшие сроки.

Метки:

Большой объем затрат на испытания – это необходимая мера в условиях частых отказов отдельных электронных компонентов в составе узлов изделия.
Сократить издержки, связанные с отказами электронных компонентов в изделиях, можно путем регулярной рекламационной работы с поставщиками ЭРИ. В основе этой работы должны быть метрологически подтвержденные, документально зафиксированные доказательства брака, выявленного на этапе входного контроля.

На нашем семинаре мы расскажем Вам о том, как на регулярной основе организовать на предприятии систему рекламационной работы с поставщиками.

Мы покажем, как достоверные данные о качестве электронных компонентов, полученные с помощью наших средств измерений тестеров FORMULA®, помогают потребителям ЭРИ не только минимизировать вероятность попадания несоответствующей ЭРИ в изделия, но и обоснованно подтверждать факты несоответствия поставленной продукции установленным требованиям.

Добро пожаловать на наш семинар!

Семинар состоится 28 сентября 2016 г. в 10.00 по адресу: г. Москва, Очаковское ш., д. 34, Б/Ц West Park, 1 этаж, офис ФОРМ.

Вход свободный. Для прохода в Б/Ц West Park необходимо предъявить паспорт. Для предварительной регистрации и заказа пропусков просим Вас сообщить нам в письме на info@form.ru ФИО специалистов, прибывающих на семинар.

Координатор семинара: Бочарова Екатерина, тел. 8 (495) 269-75-90

Теперь начальную инициализацию наиболее высокоинтегрированных ПЛИС, таких как STRATIX4, ф.ALTERA, можно выполнить на Тестере FORMULA HF Ultra через «STAPL Player» всего за 22 секунды без использования байтбластера и САПР Quartus.

Для удобства управления встроенным портом JTAG Тестера FORMULA HF Ultra в программной среде Тестера имеется опция поддержки языка тестирования и программирования микросхем - JAM/STAPL.

STAPL (Standard Test and Programming Language) – это специализированный интерпретирующий язык высокого уровня для управления интерфейсом JTAG. Первоначальная версия языка (под названием JAM) была разработана фирмой ALTERA, позднее был выпущен стандарт JED71, который описывает вторую версию языка.
Утилита «STAPL Player» Тестера FORMULA HF Ultra представляет собой программу, предназначенную. для «проигрывания» (выполнения) т.н. JAM/STAPL-файлов, предварительно созданных программами типа STAPL Composer (например, iMPACT от Xilinx, Quartus II от Altera, IspVM от Lattice, Designer/FlashPro от Actel, ISR от Cypress). Предусмотрена также возможность выполнения программ, разработанных инженером-измерителем «вручную», непосредственно в программной среде Тестера.

Читать дальше...Свернуть )

Календарь

Август 2017
Вс Пн Вт Ср Чт Пт Сб
  12345
6789101112
13141516171819
20212223242526
2728293031  
Разработано LiveJournal.com
Дизайн Lilia Ahner