| Наименование параметра | Диапазоны |
| Измерение статических параметров | |
| Количество задающих каналов | 2 |
| Диапазон задания по напряжению | 100 мВ…2000 В |
| Дополнительные диапазоны источников напряжения | 5 |
| Ряд источников напряжения | 10; 20; 200; 500; 2000 В |
| Погрешность задания напряжения | ±(0,5% + 10 мВ) |
| Погрешность измерения напряжения | ±(0,5% + 10 мВ) |
| Диапазон измеряемого напряжения | 100 мВ…2000 В |
| Длительность измерительного импульса | 300 мкс…100 с |
| Количество измерительных каналов | 2 |
| Диапазон задания по току | 100 нА…100 А |
| Диапазон измеряемого тока без подключения внешнего прибора | 100 нА…100 А |
| Дополнительные диапазоны источников тока | 8 |
| Ряд независимых источников тока | 5 мА; 200 мА; 10 А; 100 А |
| Погрешность задания тока | ±(1% + 50 нА) в стандартном режиме ±(2% + 20 нА) в режиме малых токов |
| Погрешность измерений тока | ±(1% + 50 нА) в стандартном режиме ±(2% + 20 нА) в режиме малых токов |
| Диапазон измеряемого заряда переключения затвора | 10 пК…2000 нК |
| Диапазон измеряемой емкости | 0,1 пФ…100 нФ |
| Диапазон измеряемой индуктивности | 0,001 нГ…100 Г |
| Диапазон измеряемого сопротивления | 0,1 мкОм…100 МОм |
| Измерение динамических параметров | |
| Диапазон измеряемого времени включения | 10 нс…1 мкс |
| Диапазон измеряемого времени выключения | 10 нс…1 мкс |
| Диапазон измеряемого времени нарастания | 10 нс…1 мкс |
| Диапазон измеряемого времени спада | 10 нс…1 мкс |
| Диапазон измеряемого времени обратного восстановления диодов | 10 нс…1 мкс |
| Погрешность измерения динамических параметров | Не более 10% |
| Диапазон задания по напряжению | 100 мВ…800 В |
| Ряд источников напряжения | 40 В, 800 В |
| Погрешность задания напряжения, типовая | Не более 2% |
| Ряд источников тока | 10 А, 100 А |
Тестер FORMULA SD обеспечивает контроль полупроводниковых приборов в полном соответствии с требованиями соответствующих отечественных и зарубежных стандартов:
ГОСТ 18986 – диоды и стабилитроны;
ГОСТ 18604, ГОСТ 27264 – биполярные транзисторы;
ГОСТ 20398, MIL-STD-750 (Method 3473.1, 3472.2) – полевые транзисторы;
ГОСТ 24613 – оптопары;
ГОСТ 19138 – тиристоры.
В дополнение к возможностям Тестера FORMULA TT2 в Тестере FORMULA SD реализованы следующие дополнительные возможности по измерениям статических параметров:
1. Измерение емкостных характеристик полевых транзисторов и диодов;
2. Измерение зарядовых характеристик полевых транзисторов;
3. Измерение энергии лавинного пробоя полевых транзисторов.
Контроль динамических параметров в Тестере FORMULA SD обеспечен возможностью подачи на объект контроля напряжений и токов с источников 40В/100А и 800В/10А.
Измерение статических, динамических и емкостных/зарядовых параметров производится на единой установочной площадке. При этом обеспечено автоматическое документирование режимов и результатов измерений.
